Atomic Force Microscope
-
atomic force afm microscope
အမှတ်တံဆိပ်: NANBEI
မော်ဒယ်- AFM
လျှပ်ကာများအပါအဝင် အစိုင်အခဲပစ္စည်းများ၏ မျက်နှာပြင်ဖွဲ့စည်းပုံကို လေ့လာရန် အသုံးပြုနိုင်သည့် Atomic Force Microscope (AFM)။၎င်းသည် စမ်းသပ်မည့်နမူနာ၏ မျက်နှာပြင်နှင့် မိုက်ခရိုတွန်းအား ထိလွယ်ရှလွယ် ဒြပ်စင်များကြားတွင် အလွန်အားနည်းသော အပြန်အလှန်တုံ့ပြန်မှုအား ရှာဖွေခြင်းဖြင့် အရာဝတ္ထုတစ်ခု၏ မျက်နှာပြင်တည်ဆောက်ပုံနှင့် ဂုဏ်သတ္တိများကို လေ့လာသည်။
